OV5640 YUV JPEG вывод HD 5MP ИК ИК камера ночного видения цифровая камера ESP32 модуль Mipi

  • OV5640 YUV JPEG output HD 5MP IR night vision digital camera ESP32 module Mipi
  • OV5640 YUV JPEG output HD 5MP IR night vision digital camera ESP32 module Mipi
  • OV5640 YUV JPEG output HD 5MP IR night vision digital camera ESP32 module Mipi
  • OV5640 YUV JPEG output HD 5MP IR night vision digital camera ESP32 module Mipi

OV5640 YUV JPEG вывод HD 5MP ИК ИК камера ночного видения цифровая камера ESP32 модуль Mipi


Модель:АС-AA048A65M89-63х18


Приложений: Слежка, распознавание лиц, умный дом, автомобильный регистратор, правоохранительные органы и т.д.
ФункцииПоддержка JPEG / YUV / ESP32 / Flash LED / Широкоугольный / IR-CUT / Микроконтроллер
Формат:СЫРОЙ
Индивидуальная поддержка: OEM, ODM
Датчик изображения: ОВ5640
Размеры модуля: 63x18 мм (печатная плата)
HD: 5 МП 2K 1080P
Интерфейс: MIPI
Пиксел: 5 МП (2592x1944)
Частота кадров: 15-120 кадров в секунду
Размер объектива:1/4 дюйма
Совместимость с системами: Windows Android Linux
Сертификация: RoHS


OV5640 YUV JPEG вывод HD 5MP ИК ИК камера ночного видения цифровая камера ESP32 модуль Mipi
В этом модуле камеры используется технология OmniVision - это CMOS Image Sensor OV5640 датчик изображения с высоким разрешением, высокой частотой кадров и низким энергопотреблением. Он может захватывать четкие и детализированные изображения для широкого спектра сценариев применения.
Модуль также поддерживает автофокус, автоматический баланс белого, оптическую стабилизацию, заполняющий свет и инфракрасное ночное видение для улучшения съемки.
Модуль камеры датчика изображения OV5640 широко используется в смартфонах, планшетных ПК, цифровых камерах, камерах наблюдения, машиностроении роботов, промышленном контроле и других областях. Например, в смартфонах его можно использовать для съемки качественных фото и видео; в системах видеонаблюдения он может обеспечивать четкое изображение с камер наблюдения; А в промышленном контроле его можно использовать для точных измерений и обнаружения дефектов объектов.